Journal of synchrotron radiation · 2024
In situ characterization of stresses, deformation and fracture of thin films using transmission X-ray nanodiffraction microscopy. Corrigendum.
Опубликованное исправлениеНазвание и аннотация: Перевод в очереди
Обработка статьи · этапы, ошибки и управление
Загрузка состояния…
Ошибки и ограничения
История · было → стало
Состояние обновляется каждые 5 секунд, пока блок открыт. Процент показывается только там, где известен объём работы. Пауза останавливает продолжение этапа; текущий запрос к источнику может завершиться.
Lotze Gudrun, Iyer Anand H S, Bäcke Olof, Kalbfleisch Sebastian, Colliander Magnus Hörnqvist
Аннотация
Errors in variable subscripts, equations and Fig. 8 in Section 3.2 of the article by Lotze et al. [(2024). J. Synchrotron Rad. 31, 42-52] are corrected.