MedElevator Войти в исследования
← Поиск публикаций

DOI 10.1002/cssc.201600440

Медицинская библиотека · ChemSusChem · 2016

Improved Performance of Electroplated CZTS Thin-Film Solar Cells with Bifacial Configuration.

Ge Jie, Yu Yue, Ke Weijun, Li Jian, Tan Xinxuan, Wang Zhiwei, Chu Junhao, Yan Yanfa

СтатьяПоддержка правительства СШАПоддержка исследования: вне правительства СШАПеревод в очереди

Аннотация

Annealing in S vapor greatly improves the performance of electroplated Cu2 ZnSnS4 (CZTS) solar cells based on the bifacial configuration of Al-doped ZnO (AZO, front contact)/ZnO/CdS/CZTS/indium tin oxide (ITO, back contact), as compared to H2 S annealing in our previous works. S-vapor annealing does not cause severe damage to the conductivity of the ITO back contact. The highest device efficiency of 5.8 % was reached under 1 sun illumination from the AZO side. The well-preformed devices based on the ITO back contact demonstrate smaller series resistances and better fill factors, as compared to our substrate-type devices using Mo back contacts. An interfacial reaction at the ITO back contact has been revealed in experiments, which contributes to the formation of SnO2 -enriched interfacial layer and diffusion of In from ITO into CZTS through the Sn sites. Incorporation of In does not significantly change the optical and structural properties or the grain size of CZTS absorbers.

Для цитирования: Ge Jie, Yu Yue, Ke Weijun, Li Jian, Tan Xinxuan, Wang Zhiwei, Chu Junhao, Yan Yanfa. Improved Performance of Electroplated CZTS Thin-Film Solar Cells with Bifacial Configuration.. ChemSusChem. 2016. DOI: 10.1002/cssc.201600440.

Предметные рубрики MeSH

Подготовка и перевод публикации
Обработка статьи · этапы, ошибки и управление
Загрузка состояния…

История · было → стало

Состояние обновляется каждые 5 секунд, пока блок открыт. Процент показывается только там, где известен объём работы. Пауза останавливает продолжение этапа; текущий запрос к источнику может завершиться.

Тип публикации указан по данным источника. Уровень доказательности автоматически не присваивается.