Analytical chemistry · 2003
Desorption/ionization on silicon time-of-flight/time-of-flight mass spectrometry.
СтатьяПоддержка службы здравоохранения СШАНазвание и аннотация: Перевод в очереди
Обработка статьи · этапы, ошибки и управление
Загрузка состояния…
Ошибки и ограничения
История · было → стало
Состояние обновляется каждые 5 секунд, пока блок открыт. Процент показывается только там, где известен объём работы. Пауза останавливает продолжение этапа; текущий запрос к источнику может завершиться.
Go Eden P, Prenni Jessica E, Wei Jing, Jones Arianna, Hall Steven C, Witkowska H Ewa, Shen Zhouxin, Siuzdak Gary
Аннотация
Desorption/ionization on silicon (DIOS) tandem time-of-flight (TOF/TOF) mass spectrometry (MS) provides high accuracy and significant fragmentation information, particularly in the characterization of biomolecules. DIOS TOF/TOF offers a high-throughput surface-based ionization platform as well as complete fragmentation through high collision energies. The absence of matrix interference in DIOS allows for the MS and MS/MS analysis of small molecules well below m/z 300. In addition, sample preparation is minimal, and the DIOS chips can be stored and reanalyzed for fragmentation information or accurate mass measurements. The combined benefits of robustness, minimal sample preparation, good sensitivity, high throughput, and sequencing capability make DIOS TOF/TOF a powerful tool for small molecule characterization and protein identification.