Optics express · 2014
Continuous-wave terahertz system based on a dual-mode laser for real-time non-contact measurement of thickness and conductivity.
СтатьяПоддержка исследования: вне правительства СШАНазвание и аннотация: Перевод в очереди
Обработка статьи · этапы, ошибки и управление
Загрузка состояния…
Ошибки и ограничения
История · было → стало
Состояние обновляется каждые 5 секунд, пока блок открыт. Процент показывается только там, где известен объём работы. Пауза останавливает продолжение этапа; текущий запрос к источнику может завершиться.
Moon Kiwon, Kim Namje, Shin Jun-Hwan, Yoon Young-Jong, Han Sang-Pil, Park Kyung Hyun
Аннотация
Terahertz (THz) waves have been exploited for the non-contact measurements of thickness and refractive index, which has enormous industrial applicability. In this work, we demonstrate a 1.3-μm dual-mode laser (DML)-based continuous-wave THz system for the real-time measurement of a commercial indium-tin-oxide (ITO)-coated glass. The system is compact, cost-effective, and capable of performing broadband measurement within a second at the setting resolution of 1 GHz. The thickness of the glass and the sheet conductivity of the ITO film were successfully measured, and the measurements agree well with those of broadband pulse-based time domain spectroscopy and Hall measurement results.