Science advances · 2016
Subatomic deformation driven by vertical piezoelectricity from CdS ultrathin films.
СтатьяПоддержка исследования: вне правительства СШАНазвание и аннотация: Перевод в очереди
Обработка статьи · этапы, ошибки и управление
Загрузка состояния…
Ошибки и ограничения
История · было → стало
Состояние обновляется каждые 5 секунд, пока блок открыт. Процент показывается только там, где известен объём работы. Пауза останавливает продолжение этапа; текущий запрос к источнику может завершиться.
Wang Xuewen, He Xuexia, Zhu Hongfei, Sun Linfeng, Fu Wei, Wang Xingli, Hoong Lai Chee, Wang Hong, Zeng Qingsheng, Zhao Wu, Wei Jun, Jin Zhong, Shen Zexiang, Liu Jie, Zhang Ting, Liu Zheng
Аннотация
Driven by the development of high-performance piezoelectric materials, actuators become an important tool for positioning objects with high accuracy down to nanometer scale, and have been used for a wide variety of equipment, such as atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. However, positioning at the subatomic scale is still a great challenge. Ultrathin piezoelectric materials may pave the way to positioning an object with extreme precision. Using ultrathin CdS thin films, we demonstrate vertical piezoelectricity in atomic scale (three to five space lattices). With an in situ scanning Kelvin force microscopy and single and dual ac resonance tracking piezoelectric force microscopy, the vertical piezoelectric coefficient (d 33) up to 33 pm·V(-1) was determined for the CdS ultrathin films. These findings shed light on the design of next-generation sensors and microelectromechanical devices.