Ultramicroscopy · 2004
Cross-section analysis of organic light-emitting diodes.
СтатьяПоддержка исследования: вне правительства СШАНазвание и аннотация: Перевод в очереди
Обработка статьи · этапы, ошибки и управление
Загрузка состояния…
Ошибки и ограничения
История · было → стало
Состояние обновляется каждые 5 секунд, пока блок открыт. Процент показывается только там, где известен объём работы. Пауза останавливает продолжение этапа; текущий запрос к источнику может завершиться.
Schaffer Bernhard, Mitterbauer Christoph, Schertel Andreas, Pogantsch Alexander, Rentenberger Stephan, Zojer Egbert, Hofer Ferdinand
Аннотация
The 'lift-out' technique using a focused ion beam microscope was applied to prepare cross-sectional specimens of organic light-emitting diodes for use in transmission electron microscopy. The focused ion beam equally thins the organic/inorganic hybrid devices despite the difference in material hardness of the compounds. This allowed to overcome preparation difficulties of conventional techniques such as ion thinning or ultra-microtomy. Two different samples were prepared and studied by both conventional transmission electron microscopy and analytical electron microscopy to display some of the investigation possibilities which become available with this sample preparation method.