Nano letters · 2006
Raman microprobe analysis of elastic strain and fracture in electrophoretically deposited CdSe nanocrystal films.
СтатьяПоддержка исследования: вне правительства СШАНазвание и аннотация: Перевод в очереди
Обработка статьи · этапы, ошибки и управление
Загрузка состояния…
Ошибки и ограничения
История · было → стало
Состояние обновляется каждые 5 секунд, пока блок открыт. Процент показывается только там, где известен объём работы. Пауза останавливает продолжение этапа; текущий запрос к источнику может завершиться.
Banerjee Sarbajit, Jia Shengguo, Kim Dae I, Robinson Richard D, Kysar Jeffrey W, Bevk Joze, Herman Irving P
Аннотация
The mechanical stability of nanocrystal films is critical for applications, yet largely unexplored. Raman microprobe analysis used here to probe the nanocrystal cores of thick, fractured electrophoretically deposited films of 3.2 nm diameter CdSe nanocrystals measures approximately 2.5% in-plane tensile strain in cores of unfractured films. The crack dimensions determine the overall in-plane film strain, approximately 11.7%, and the film biaxial modulus, approximately 13.8 GPa, from which the biaxial modulus of the trioctylphosphine oxide ligand matrix is inferred, approximately 5.1 GPa.