MedElevator Войти в исследования
← Поиск публикаций

DOI 10.1021/acs.nanolett.6c01905

Медицинская библиотека · Nano letters · 2026

Persistence of Large and Gate-Tunable Anisotropic Magnetoresistance in an Atomically Thin Antiferromagnet.

Cheon Cheol-Yeon, Watanabe Kenji, Taniguchi Takashi, Morpurgo Alberto F, Lebedev Dmitry

СтатьяПеревод пока не подготовлен

Аннотация

Anisotropic magnetoresistance (AMR) offers a robust electrical readout of antiferromagnetic (AFM) states, playing a central role in the rapidly advancing field of AFM spintronics. Despite its great versatility, electrical probing of the Néel vector via AMR remains challenging in the ultrathin limit due to interface disorder and reduced dimensionality. Here, we demonstrate electrical readout of the Néel vector down to 1.3 nm (two layers) in the two-dimensional van der Waals (vdW) AFM semiconductor NiPS3. Leveraging spin-flop-mediated rotation of the Néel vector and using both transistor and tunnel-junction device geometries, we identify two distinct AMR contributions in NiPS3, which dominate at low and high charge densities, respectively. We achieve full gate control over these contributions, enabling tunability of both the magnitude and sign of magnetoresistance. Our results establish semiconducting vdW antiferromagnets as a rich platform for studying AMR in the ultrathin limit, opening new avenues for multifunctional AFM spintronic devices.

Для цитирования: Cheon Cheol-Yeon, Watanabe Kenji, Taniguchi Takashi, Morpurgo Alberto F, Lebedev Dmitry. Persistence of Large and Gate-Tunable Anisotropic Magnetoresistance in an Atomically Thin Antiferromagnet.. Nano letters. 2026. DOI: 10.1021/acs.nanolett.6c01905.
Подготовка и перевод публикации
Обработка статьи · этапы, ошибки и управление
Загрузка состояния…

История · было → стало

Состояние обновляется каждые 5 секунд, пока блок открыт. Процент показывается только там, где известен объём работы. Пауза останавливает продолжение этапа; текущий запрос к источнику может завершиться.

Тип публикации указан по данным источника. Уровень доказательности автоматически не присваивается.