The Review of scientific instruments · 2008
High precision differential measurement of surface photovoltage transients on ultrathin CdS layers.
СтатьяНазвание и аннотация: Перевод в очереди
Обработка статьи · этапы, ошибки и управление
Загрузка состояния…
Ошибки и ограничения
История · было → стало
Состояние обновляется каждые 5 секунд, пока блок открыт. Процент показывается только там, где известен объём работы. Пауза останавливает продолжение этапа; текущий запрос к источнику может завершиться.
Dittrich Th, Bönisch S, Zabel P, Dube S
Аннотация
Time-resolved surface photovoltage (SPV) is an important method for studying charge separation, for example, in nanostructured semiconductors. High precision differential measurement of SPV transients was realized with two identical measurement capacitors and high-impedance buffers. In addition, logarithmic readout and averaging procedures were implemented for single transients over eight magnitudes in time. As a model system ultrathin CdS layers were investigated. The thickness dependencies of the SPV amplitudes and that of the dominating relaxation mechanisms are demonstrated and discussed.